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Dezember2003 DEUTSCHENORM Halbleiterbauelemente DIN Mechanische undklimatische Prufverfahren Teil 36: Gleichmaiges Beschleunigen EN 60749-36 (IEC60749-36:2003) DeutscheFassungEN60749-36:2003 ICS 31.080.01 Teilweiser Ersatz fur DIN EN 60749:2002-09 Siehe Beginn der Gultigkeit Semiconductor devices -Mechanical and climatic test methods - Part 36:Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003); GermanversionEN60749-36:2003 Dispositifs a semiconducteurs -Methodes d'essais mecaniques et climatiques-Partie36:Accélerationconstante (CEl60749-36:2003); Version allemandeEN 60749-36:2003 DieEuropaischeNormEN60749-36:2003hatdenStatuseinerDeutschenNorm. Beginn der Gultigkeit Die EN 60749-36 wurde am 2003-04-01angenommen. 2006-04-01 angewendet werden. Nationales Vorwort Fur die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium K 631,Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE zustandig Norm-lnhalt war veroffentlicht als E DIN EN 60749-36:2002-05. Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom TC 47,Semiconductor devices" erarbeitet. Sie geht auf einen Beschluss des TC 47 zuruck, die in IEC 60749 enthaltenen Prufverfahren in getrennten Teilen zu veroffentlichen. Nach Abschluss der von IEC/TC 47 beschlossenen kompletten Uberarbeitung der IEC 60749 und der Aufteilung in jeweils einen Teil der Reihe IEC 60749 je Prufverfahren wird die Reihe der Normen voraussichtlich aus 36 Teilen bestehen. Das IEC-Komitee hat entschieden,dass der Inhalt dieser Publikation bis zum Jahr2007unverandert bleiben soll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation bestatigt, zuruckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder geandert. - Stand 2016-11 Fortsetzung Seite 2 und 5 Seiten EN BEST BeuthStandardsCollection DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE @ DIN Deutsches Institut fur Normung e.V. - Jede Art der Vervielfaltigung,auch auszugsweise, Ref. Nr.DIN EN 60749-36:2003-12 nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fur Normung e. V., Berlin, gestattet. Preisgr. 06 Vertr.-Nr. 2506 Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin DINEN60749-36:2003-12 Fur den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabe des Ausgabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) bezieht sich die Verweisung auf die jeweils neueste gultige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm Fur den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf die in Bezug genommene Ausgabe der Norm. Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich, soweit ein DeutscheNormenwerk aufgenommen. IEC hat 1997 die Benummerung der IEC-Publikationen geandert.Zuden bisher verwendeten Normnummern wird jeweils 60000 addiert. So ist zum Beispiel aus IEC 68 nun IEC 60068 geworden. Anderungen GegenuberDIN EN60749:2002-09wurdenfolgendeAnderungen vorgenommen: vollstandige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 2, Abschnitt 5 enthaltenen Prufung.Dies betrifft sowohl das Verfahren als auch die Prufdurchfuhrung; insbesondere die Art der elektrischen Beanspru- chung wurde neu festgelegt. Fruhere Ausgaben DIN 41794-1:1972-06 DIN IEC 60749:1987-09 DINEN60749:2000-02,2001-09,2002-09 - Stand 2016-11 BESTBeuthStandardsCollection 2 EUROPAISCHE NORM EN 60749-36 EUROPEANSTANDARD NORME EUROPEENNE April 2003 ICS 31.080.01 Deutsche Fassung Halbleiterbauelemente MechanischeundklimatischePrufverfahren Teil 36: Gleichmasiges Beschleunigen (IEC 60749-36:2003) Semiconductordevices Dispositifs a semiconducteurs Mechanical and climatic test methods Methodes d'essais mécaniques et climatiques Part 36:Acceleration, steady state Partie36:Acceleration constante (IEC 60749-36:2003) (CEI 60749-36:2003) Diese Europaische Norm wurde von CENELEC am 2003-04-01 angenommen. Die CENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschaftsordnung

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IEC 60749-36 2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 Acceleration steady state 第 1 页 IEC 60749-36 2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 Acceleration steady state 第 2 页 IEC 60749-36 2003 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 Acceleration steady state 第 3 页
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